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HAST非飽和高壓老化蒸煮爐試驗箱設備半導體測試最早是為了替代傳統的高溫高濕測試（THB: Temperature-Humidity-Bias） 和高壓蒸煮 測試（PCT: Pressure Cooker Test） 而發展起來的。THB 測試時間太長（通常 1000 小時）， 而 PCT 的濕度是 100%RH（凝結水），與實際環境有差異。

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